| НТК-3 специализируется на исследовании радиационного поведения изделий цифровой, аналоговой и силовой электроники, преобразователях физических величин, датчиков, уделяя особое внимание корректному контролю точностных характеристик прецизионных микросхем, заданию тестовых полей для датчиков физических величин, информативному контролю работоспособности. Основные области научных интересов и решаемых задач НТК-3:• Исследования радиационного поведения прецизионных аналоговых микросхем дискретных цифровых микросхем приемо-передатчиков преобразователей сигналов датчиков физических величин вторичных источников питания мощных полупроводниковых приборов тестовых структур МЭМС и МСТ изделий• Подготовка и проведение радиационных экспериментов для оценки показателей стойкости• Разработка и изготовление индивидуальной контрольно-измерительной оснастки• Создание автоматизированных измерительных комплексов для контроля работоспособности изделий• Образовательная деятельность в вопросах автоматизации и проведения радиационного эксперимента
Научно-техническая группа «Аналоговые интегральные схемы» (НТГ «АИС») НТГ «АИС» проводит радиационные исследования всей номенклатуры аналоговых микросхем отечественного и иностранного производства: операционных усилителей, аналоговых компараторов, аналоговых БМК, стабилизаторов напряжения (линейных и импульсных, источников опорного напряжения), модулей преобразователей напряжения (вторичных источников питания), датчиков физических величин (температуры, магнитного поля, давления, ускорения и др.), стойкости пассивных компонентов (резисторов, конденсаторов, индуктивностей), дискретных полупроводниковых приборов (диодов, биполярных, МОП, IGBT-транзисторов), МЭМС и МСТ изделий, тестовых структур и др.
Научно-техническая группа «Цифровые интегральные схемы и полупроводниковые приборы» (НТГ «ЦИС и ППП») НТГ «ЦИС и ППП» специализируется на исследовании радиационного поведения дискретных цифровых микросхем отечественного и иностранного производства: цифровая логика, микросхемы трактов промышленных интерфейсов передачи данных (приемопередатчики стандартов RS232/485/688, CAN, 1-, 2-, 3-проводных линий связи, дифференциальных сигнальных линий), микросхемы преобразователей информации (температура, сопротивление, преобразователи напряжение-код).
Научно-техническая группа «Испытания АИС и ЦИС на стойкость к воздействию отдельных ядерных частиц» НТГ проводит исследования локальных радиационных эффектов от тяжелых заряженных частиц в аналоговых и дискретных цифровых микросхемах, изделиях силовой электроники, мощных МОП и IGBT транзисторах. Исследования проходят с применением автоматизированных контрольно-измерительных комплексов адаптированных для проведения экспериментов на циклотронах тяжелых ионов «У-400» и «У-400М» (ОИЯИ г. Дубна), синхротроне протонов (ПИЯФ г. Гатчина), лазерных источников ПИКО-3, ПИКО-4, ФЕМТО-Т и РАДОН-9Ф). |
|
С 2005г. испытано
типов изделий
типов изделий
Выбор языка:
Научно-технический комплекс «Аналоговые и цифровые ИС» (НТК-3)
