| № | Название, авторы, журнал | Статус |
| 1 | P.V. Nekrasov, O.V. Merkushin, I.I. Shvetsov-Shilovskiy «Analog-Digital Blocks Contribution to the Microcontrollers’ TID Response», 50th International Conference on Microelectronics, Devices and Materials «MIDEM-2014», October 2014., рр 191-194 | Труды конференции |
| 2 | Исследования эффекта одиночного функционального прерывания в микропроцессорных СБИС. В.А. Марфин, П.В. Некрасов // Радиационная стойкость электронных систем – «Стойкость-2014», выпуск 17, Москва, 2014, стр. 55-56. | Труды конференции |
| 3 | Влияние эффектов низкой интенсивности на стойкость цифровых и аналогово-цифровых микросхем к поглощенной дозе. А.Б. Каракозов, О.А. Калашников, А.А. Демидов, А.Г. Петров, Г.С. Сорокоумов // Радиационная стойкость электронных систем – «Стойкость-2014», выпуск 17, Москва, 2014, стр. 111-112. | Труды конференции |
| 4 | Влияние технологических аспектов сборки микропроцессора 1904ВЕ1Т на показатели его радиационной стойкости. В.А.Марфин, П.В.Некрасов, А.Е.Зимин, Е.В.Тихонов, И.Б.Яшанин // Радиационная стойкость электронных систем – «Стойкость-2014», выпуск 17, Москва, 2014, стр. 183-184. | Труды конференции |
| 5 | Марфин В.А., Некрасов П.В. Использование модуля быстрого ввода/вывода NI PXI-7841R для проведения функционального контроля работоспособности СБИС микропроцессоров.// Инженерные и научные приложения на базе технологий NI NIDays – 2014: Сборник трудов XIII международной научно-практической конференции, Москва 19-20 ноября 2014 г. – М.: ДМК Пресс, 2014. – с. 66-67 | Труды конференции |
| 6 | В.А. Марфин, П.В. Некрасов. Использование стандартных интерфейсов программирования и отладки для контроля работоспособности функционально-сложных СБИС при проведении дозовых радиационных испытаний // Тезисы докладов 16 Всероссийской научно-технической конференции по радиационной стойкости электронных систем «Стойкость - 2013». Научно–техн. сборник, 2013. С.95-96. | Труды конференции |
| 7 | А.Б. Каракозов, В.А. Марфин, П.В. Некрасов, О.А. Калашников. Влияние интенсивности воздействия на дозовую стойкость процессора ADSP-2181BST-133 // Тезисы докладов 16 Всероссийской научно-технической конференции по радиационной стойкости электронных систем «Стойкость - 2013». Научно–техн. сборник, 2013. С.74-76. | Труды конференции |
| 8 | В.С. Анашин, С.А. Яковлев, П.А. Чубунов, П.В. Некрасов, А.Б. Каракозов «Сравнение результатов дозовых испытаний микроконтроллера ATMEGA128-16AU на гамма-устанвке и рентгеновском имитаторе.» // Радиационная стойкость электронных систем – «Стойкость-2013», выпуск 16, Москва, 2013, стр. 131-132. | Труды конференции |
| 9 | П.В. Некрасов, А.Б. Каракозов, А.А. Печенкин, А.В. Яненко, В.С. Анашин, П.А. Чубунов «Исследования одиночных эффектов в микроконтроллере на ускорителе ионов и пикосекундном лазере»// Радиационная стойкость электронных систем – «Стойкость-2013», выпуск 16, Москва, 2013, стр. 159-132. | Труды конференции |
| 10 | Меркушин О.В. «Измерение параметров аналогово-цифровых блоков микроконтроллеров при проведении радиационных испытаний» // 17-я Международная телеккомуникационная конференция молодых ученых и студентов «Молодежь и наука». Тезисы докладов. – Ч.1.М.: НИЯУ МИФИ, 2014, с.90-91. | Труды конференции |
| 11 | Исследование вклада аналогово-цифровых блоков в радиационную стойкость микроконтроллеров. О.В. Меркушин, И.И. Швецов-Шиловский, П.В. Некрасов // Радиационная стойкость электронных систем – «Стойкость-2014», выпуск 17, Москва, 2014, стр. 171-172. | Труды конференции |
| 12 | Конструктивно-технологические методы повышения стойкости КНИ тестовых библиотечных элементов. И.О.Лоскутов, А.Б.Каракозов, П.В.Некрасов, С.И.Волков, С.А.Морозов, А.А.Глушко // Радиационная стойкость электронных систем – «Стойкость-2014», выпуск 17, Москва, 2014, стр. 159-160. | Труды конференции |
