АО "ЭНПО СПЭЛС"

Выбор языка:

Итоги 19-й Всероссийской научно-технической конференции "Стойкость-2016"

E-mail Печать PDF

stoykostweb-50 7-8 июня 2016 года в г. Лыткарино Московской области состоялась 19-я ежегодная Всероссийская научно-техническая конференция «Радиационная стойкость электронных систем» («Стойкость - 2016»), в которой приняли участие сотрудники НОЦ «Стойкость» (ИЭПЭ НИЯУ МИФИ и АО «ЭНПО СПЭЛС»). Тематика конференции включает следующие направления:

1.    Внешние радиационные условия эксплуатации изделий электронной техники, электротехники и аппаратуры.

2.    Радиационные и электромагнитные эффекты в изделиях радиоэлектроники, механизмы деградации параметров, отказы, одиночные сбои.

3.    Оценка и обеспечение радиационной стойкости и надежности изделий электронной техники, электротехники, аппаратуры, радиотехнических материалов, в том числе материалов космического назначения.

4.    Расчётные и экспериментальные методы определения радиационной стойкости изделий.

5.    Испытательные установки, дозиметрическое и метрологическое сопровождение испытаний.

Работа конференции проходила в двух направлениях: стендовые доклады и устные выступления. Всего для стендового представления были заявлены 123 работы, из которых 45 от сотрудников НОЦ «Стойкость». Тезисы вошли в сборник конференции «Стойкость-2016». Кроме того из 18 устных докладов, 6 было представлено сотрудниками НОЦ «Стойкость»:

1.    А.И. Чумаков, В.М. Ужегов, А.О. Ахметов, Д.В. Бойченко, А.В. Яненко, Н.В. Рясной Вопросы задания требований по стойкости ИС при воздействии ТЗЧ

2.    Л.Н. Кессаринский, Д.В. Бобровский, А.С. Тарараксин, А.И. Чумаков, Д.В. Бойченко Сравнительные исследования одиночных эффектов в микросхемах на ускорителях ионов ОИЯИ (г. Дубна, Россия) и UCL (г. Левин-ла-Нев, Бельгия)

3.    О.А. Калашников, Д.В. Бойченко, А.Ю. Никифоров, В.А. Телец, А.В. Уланова, А.В. Яненко Обеспечение единого методического подхода при задании и подтверждении требований по радиационной стойкости ЭКБ ОП

4.    А.А. Печенкин, А.Б. Боруздина, Д.В. Бобровский, А.И. Чумаков, А.В. Яненко Особенности применения лазерных методов испытаний на стойкость к воздействию ТЗЧ для современных суб-100 нм СБИС

5.    К.М. Амбуркин, Д.В. Громов, В.В. Елесин, Г.В. Чуков Аппаратно-программный зондовый комплекс для исследовательских испытаний некорпусированных изделий ТСВЧ

6.    А.В. Согоян, Г.Г. Давыдов, А.С. Артамонов, А.С. Колосова, В.А. Телец, А.Ю. Никифоров, Ю.А. Ожегин, А.С. Каменева Идентификация производителя цифровых интегральных микросхем по результатам радиационных испытаний

Количество и качество докладов вновь подтвердили высокий научно-технический уровень НОЦ «Стойкость» (ИЭПЭ НИЯУ МИФИ и АО «ЭНПО СПЭЛС»).

stoykostweb-113 stoykostweb-59 stoykostweb-78  

 
Навигация по сайту: Главная страница Новости Последние новости Итоги 19-й Всероссийской научно-технической конференции "Стойкость-2016"