АО "ЭНПО СПЭЛС"

Выбор языка:

Участие в Международной конференции по радиационным эффектам в компонентах и системах RADECS-2016

E-mail Печать PDF

dsc01653 С 19 по 23 сентября 2016 года в Германии в г. Бремен ученые НОЦ «Стойкость» НИЯУ МИФИ (ИЭПЭ НИЯУ МИФИ и АО «ЭНПО СПЭЛС») представили 6 докладов на 25 ежегодной Международной конференции по радиационным эффектам в компонентах и системах – The Conference on RADiation Effects on Components and Systems (RADECS-2016).

RADECS является крупнейшей конференцией в Европе по вопросу контроля и обеспечения радиационной стойкости ЭКБ и РЭА космического применения. В этот раз она собрала более 400 специалистов из 30 стран мира.

Перечень докладов сотрудников НОЦ «Стойкость» НИЯУ МИФИ на конференции RADECS-2016:

1. Analog to Digital Converters Single Event Upset Heavy Ion Test Technique Д.В. Бобровский, А.О. Ахметов, А.А. Демидов, Г.С. Сорокоумов, В.А. Телец

2. 110 nm Flash Memory SEE Heavy Ion Test Д.В. Бобровский, А.О. Ахметов, Д.В. Бойченко, А.Г. Петров

3. OpAmp SET comparative investigation at JINR Russia and UCL Belgium cyclotrons Л.Н. Кессаринский, А.С. Тарараксин, Д.В. Бойченко, А.В. Яненко

4. Influence of FRAM operational mode on its SEE susceptibility А.Б. Боруздина, А.В. Уланова, А.А. Орлов, А.А. Печенкин, А.В. Яненко, А.Ю. Никифоров

5. Rational Approach for DSP Functional Operability Monitoring within Radiation Tests О.А. Калашников, В.А. Марфин, П.В. Некрасов, А.Ю. Никифоров

6. The Enhancement Factor of ELDRS in a Wide Range of Total Doses В.С. Першенков, Д.В. Савченков, В.А. Телец

 
Навигация по сайту: Главная страница Новости Последние новости Участие в Международной конференции по радиационным эффектам в компонентах и системах RADECS-2016