АО "ЭНПО СПЭЛС"

Выбор языка:

VII Всероссийская научно-техническая конференция «Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем»

E-mail Печать PDF

dsc07486 3-8 октября сотрудники НОЦ «Стойкость» (ИЭПЭ НИЯУ МИФИ и АО «ЭНПО СПЭЛС») А.И. Чумаков, А.Б. Боруздина, А.А. Смолин, Ю.М. Московская принимали участие в работе VII Всероссийской научно-технической конференции «Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем». Конференция была посвящена актуальным вопросам автоматизации проектирования МЭС, систем на кристалле, IP-блоков и новой элементной базы микро- и наноэлектроники.

Содержательный и интересный аналитический доклад был сделан д.т.н., проф. А.И. Чумаков, «Текущее состояние и прогноз развития методов оценки и обеспечения радиационной стойкости изделий микроэлектроники».

В ходе работы секции наши сотрудники представили также следующие устные доклады, доступные для скачивания на сайте организаторов конференции http://www.mes-conference.ru/:

1) Чумаков А.И. Двухпараметрическая модель для оценки чувствительности СБИС к воздействию тяжелых заряженных частиц

2) Смолин А.А.,Чумаков А.И., Согоян А.В, Боруздина А.Б., Печенкин А.А. Механизмы многократных сбоев в микросхемах памяти

3) Московская Ю.М., Сорокоумов Г.C., Никифоров А.Ю., Денисов А.Н., Сницар В.Г., Жуков А.А., Бобровский Д.В., Уланова А.В. Рациональный состав типовой оценочной схемы для контроля радиационной стойкости партий пластин базовых матричных кристаллов

4) Боруздина А.Б., Яненко А.В., Темирбулатов М.С., Эннс В.И., Печенкин А.А., Уланова А.В., Яшанин И.Б., Чумаков А.И. Особенности экспериментальных методов исследования микросхем памяти с помехоустойчивым кодированием данных

Работа на конференции велась по 11 секциям. Всего на конференции заслушан 160 доклад, среди которых 3 пленарных и 5 аналитических. В рамках конференции МЭС проведен Круглый стол по тематике «Космическая микроэлектроника: состояние, проблемы и перспективы развития». 

 
Навигация по сайту: Главная страница Новости Последние новости VII Всероссийская научно-техническая конференция «Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем»