22-23 сентября 2020 года в г. Лыткарино Московской обл. пройдет 23-я Всероссийская научно-техническая конференция «Радиационная стойкость электронных систем» - «Стойкость-2020». В конференции примут участие 45 сотрудников АО «ЭНПО СПЭЛС» с 41 стендовыми и 6 устными докладами.
Устные доклады конференции «Стойкость-2020» от АО «ЭНПО СПЭЛС» и НИЯУ МИФИ:
1. Д.И. Сотсков, В.В. Елесин, А.Г. Кузнецов, Г.В. Чуков, Н.А. Усачев
«Радиационно-ориентированная и СВЧ-характеризация технологических процессов, применяемых для создания отечественной ЭКБ ТСВЧЭ доверенного назначения: текущее состояние и ближайшие задачи»;
2. Р.С. Торшин, Д.В. Бобровский, А.А. Демидов, Г.С. Сорокоумов
«Особенности комплексного тестирования критериальных параметров АЦП во время радиационного эксперимента»;
3. В.А. Чепов, С.Б. Шмаков, И.И. Швецов-Шиловский
«Визуализация координат сбойных ячеек памяти в микросхемах СОЗУ после воздействия ионизирующего излучения»;
4. М.П. Белова, О.Ю. Винокуров, Д.В. Печенкина, Е.Ю. Внукова, М.В. Кадолин, Д.И.Грицаенко, Д.В. Бойченко
«Стойкость линейных и импульсных стабилизаторов напряжения к накопленной дозе»;
5. А.Р. Шарипова, А.С. Колосова, А.А. Львович (АО «НИИМЭ»), Д.В. Бойченко
«Сравнительный анализ эффективности схемотехнических и конструктивно-топологических методов обеспечения стойкости на примере микросхем преобразователя кода»;
6. П.В. Александрова, К.А. Епифанцев, П.К. Скоробогатов, А.А. Аникин
«Исследование пассивных электронных компонентов на стойкость к воздействию серии импульсов напряжения».
