27 ноября 2015 г. в Москве прошла XIV ежегодная научно-практическая конференция компании National Instruments. Традиционно НОЦ «Стойкость» (АО «ЭНПО СПЭЛС» / ИЭПЭ НИЯУ МИФИ) был представлен на выставке партнеров NI с демонстрацией стенда «Контроль работоспособности ЭКБ при испытаниях на стойкость к внешним СВФ».

1 октября 2015 г. на базе НОЦ «Стойкость» (ИЭПЭ НИЯУ МИФИ и АО «ЭНПО СПЭЛС») при поддержке кафедры №3 «Электроника» НИЯУ МИФИ открылся авторизованный National Instruments научно-образовательный центр коллективного пользования «Интеллектуальные измерительные системы».

В период с 28 сентября по 03 октября 2015 года сотрудники НИЯУ МИФИ и АО «ЭНПО СПЭЛС» А.В. Уланова, Г.В. Чуков, Д.И. Сотсков приняли участие с устными докладами в первой международной конференции «Интегральные схемы и микроэлектронные модули - проектирование, производство и применение» (Микроэлектроника-2015), которая проходила в г. Алушта, Крым.