АО "ЭНПО СПЭЛС"

Выбор языка:

Новости

VII Всероссийская научно-техническая конференция «Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем»

E-mail Печать PDF

dsc07486 3-8 октября сотрудники НОЦ «Стойкость» (ИЭПЭ НИЯУ МИФИ и АО «ЭНПО СПЭЛС») А.И. Чумаков, А.Б. Боруздина, А.А. Смолин, Ю.М. Московская принимали участие в работе VII Всероссийской научно-технической конференции «Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем». Конференция была посвящена актуальным вопросам автоматизации проектирования МЭС, систем на кристалле, IP-блоков и новой элементной базы микро- и наноэлектроники.

Подробнее...
 

Участие в Международной конференции по радиационным эффектам в компонентах и системах RADECS-2016

E-mail Печать PDF

dsc01653 С 19 по 23 сентября 2016 года в Германии в г. Бремен ученые НОЦ «Стойкость» НИЯУ МИФИ (ИЭПЭ НИЯУ МИФИ и АО «ЭНПО СПЭЛС») представили 6 докладов на 25 ежегодной Международной конференции по радиационным эффектам в компонентах и системах – The Conference on RADiation Effects on Components and Systems (RADECS-2016).

RADECS является крупнейшей конференцией в Европе по вопросу контроля и обеспечения радиационной стойкости ЭКБ и РЭА космического применения. В этот раз она собрала более 400 специалистов из 30 стран мира.

Подробнее...
 

27-й Европейский симпозиум «НАДЕЖНОСТЬ ЭЛЕКТРОННЫХ УСТРОЙСТВ, ФИЗИКА ОТКАЗОВ И АНАЛИЗ» (ESREF 2016)

E-mail Печать PDF

img_20160922_141507 img_20160922_151012 С 19 по 22 сентября в г. Галле, Германия прошел 27-й Европейский симпозиум «НАДЕЖНОСТЬ ЭЛЕКТРОННЫХ УСТРОЙСТВ, ФИЗИКА ОТКАЗОВ И АНАЛИЗ» (ESREF 2016), посвященный вопросам повышения, определения надежности, поиску и анализу причин отказов, статистической обработке экспериментальных результатов испытаний материалов, устройств, микроэлектроники, организации испытательного процесса и др. 

Подробнее...
 
Страница 2 из 42
Навигация по сайту: Главная страница Новости