АО "ЭНПО СПЭЛС"

Выбор языка:

Последние новости

Новости компании
Фильтр по заголовку     Количество строк:  
Заголовок материала Хиты
1 Юбилейная 20-я Всероссийская научно-техническая конференция «Радиационная стойкость электронных систем» - «Стойкость-2017» 61
2 V Международный молодежный Форум «Инженерия для освоения космоса» 41
3 Участие в Международной научно-технической конференции «Пути решения задач обеспечения современной радиоэлектронной аппаратуры надежной электронной компонентной базой» («Сертификация ЭКБ - 2017») 322
4 Участие в семинаре «Проблемы создания специализированных радиационно-стойких СБИС на основе гетероструктур» 2017 г. 389
5 Обособленное подразделение АО «ЭНПО СПЭЛС» в Зеленограде 794
6 VII Всероссийская научно-техническая конференция «Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем» 633
7 Участие в Международной конференции по радиационным эффектам в компонентах и системах RADECS-2016 711
8 27-й Европейский симпозиум «НАДЕЖНОСТЬ ЭЛЕКТРОННЫХ УСТРОЙСТВ, ФИЗИКА ОТКАЗОВ И АНАЛИЗ» (ESREF 2016) 524
9 Награждение авторов лучших работ конференции RADECS-2015 453
10 Результаты участия в 26-ой Международной Крымской конференции«СВЧ-техника и телекоммуникационные технологии» (КрыМиКо-2016) 688
11 Итоги 19-й Всероссийской научно-технической конференции "Стойкость-2016" 792
12 НОЦ «Стойкость» (ИЭПЭ НИЯУ МИФИ и АО «ЭНПО СПЭЛС») победил в конкурсе «Золотой чип» на выставке «Новая Электроника 2016» в номинации «За достижения в испытании и контроле качества электронной компонентной базы» 868
13 Открытие выставки "Новая Электроника-2016" 759
14 Участие в конференции Radiation Test Workshop 2016 624
15 Выставка Новая Электроника - 2016 411
16 Научно-практические семинары в МНИИРИП для разработчиков ВВСТ 499
17 XVI научно- практический семинар «Проблемы создания специализированных радиационно-стойких СБИС на основе гетероструктур» 527
18 National Instruments сертификация CLAD и CLD 633
19 Победа в номинации Лучший доклад RADECS Data Workshop 2015 489
20 XIV ежегодная научно-практическая конференция компании National Instruments 1030
 
Страница 1 из 7
Навигация по сайту: Главная страница Новости Последние новости