АО "ЭНПО СПЭЛС"
Войти
Логин:
Пароль:
Забыли пароль?
Забыли логин?
Skip to content
О предприятии
История
Персонал
Подразделения
НТК-1
НТК-2
НТК-3
НТК-4
НТК-5
ОПЗ
База установок
Вакансии
Новости
Продукция и услуги
Услуги
Перечень испытанных изделий
Оборудование на заказ
Образовательная организация
Основные сведения
Структура и органы управления
Документы
Образование. Курсы ДПО
Материально-техническое обеспечение
Платные образовательные услуги
Вакантные места для приема
Руководство. Педагогический состав
Условия обучения
Распорядок учебного дня
Журнал БИТ
Контакты
Выбор языка:
Javascript is required to use this
website translator
,
free translator
Последние новости
Новости компании
Фильтр по заголовку
Количество строк:
5
10
15
20
25
30
50
100
Все
№
Заголовок материала
Хиты
41
VII Всероссийская научно-техническая конференция «Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем»
2583
42
Участие в Международной конференции по радиационным эффектам в компонентах и системах RADECS-2016
2665
43
27-й Европейский симпозиум «НАДЕЖНОСТЬ ЭЛЕКТРОННЫХ УСТРОЙСТВ, ФИЗИКА ОТКАЗОВ И АНАЛИЗ» (ESREF 2016)
2344
44
Награждение авторов лучших работ конференции RADECS-2015
2132
45
Результаты участия в 26-ой Международной Крымской конференции«СВЧ-техника и телекоммуникационные технологии» (КрыМиКо-2016)
2817
46
Итоги 19-й Всероссийской научно-технической конференции "Стойкость-2016"
2524
47
НОЦ «Стойкость» (ИЭПЭ НИЯУ МИФИ и АО «ЭНПО СПЭЛС») победил в конкурсе «Золотой чип» на выставке «Новая Электроника 2016» в номинации «За достижения в испытании и контроле качества электронной компонентной базы»
2581
48
Открытие выставки "Новая Электроника-2016"
2431
49
Участие в конференции Radiation Test Workshop 2016
2156
50
Выставка Новая Электроника - 2016
2144
51
Научно-практические семинары в МНИИРИП для разработчиков ВВСТ
2092
52
XVI научно- практический семинар «Проблемы создания специализированных радиационно-стойких СБИС на основе гетероструктур»
2277
53
National Instruments сертификация CLAD и CLD
2651
54
Победа в номинации Лучший доклад RADECS Data Workshop 2015
2051
55
XIV ежегодная научно-практическая конференция компании National Instruments
2788
56
Открытие Научно-образовательного центра National Instruments «Интеллектуальные измерительные системы»
2607
57
Международная конференция «Интегральные схемы и микроэлектронные модули – проектирование, производство и применение» (Микроэлектроника 2015)
3927
58
Отчет о результатах участия в ХIV научно-технической конференции «Твердотельная электроника. Сложные функциональные блоки РЭА» (Пульсар-2015)
2614
59
European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF) 2015 (г. Тулуза, Франция)
2293
60
Конференция RADECS-2015
3385
«
Первая
Предыдущая
1
2
3
4
5
6
7
8
Следующая
Последняя
»
Страница 3 из 8
Навигация по сайту:
Главная страница
Новости
Последние новости
Последние новости
Участие в научном семинаре лаборатории радиационной биофизики и биомедицинских технологий
25-я Всероссийская научно-техническая конференция «Радиационная стойкость электронных систем» (СТОЙКОСТЬ-2022)
Участие в Совете по применению ЭКБ
Самое популярное
О предприятии
Предоставляемые услуги
Вакансии