АО "ЭНПО СПЭЛС"

Руководитель группы: Петров Андрей Григорьевич –  Этот e-mail адрес защищен от спам-ботов, для его просмотра у Вас должен быть включен Javascript , +7-926-560-09-31

В работе группы «Запоминающие устройства и оптоэлектроника» можно выделить три направления работ:

1.    Направление работ по запоминающим устройствам заключается в подготовке и проведении испытаний микросхем памяти следующих основных типов PROM, SRAM, DRAM,FLASH, EEPROM, FRAM и др. (Петров А.Г., Боруздина А.Б.)

2.    Испытания изделий оптоэлектроники также составляют значительную долю работ, проводимых группой. При изучении характеристик испытываемого объекта проводится контроль не только электрических параметров объекта, но и оптических характеристик, что позволяет дать более полное представления об уровнях стойкости. Типовые объекты для радиационного эксперимента: оптроны, светодиоды, фотодиоды, оптоволокно, ПЗС, КМОП- и болометрические матрицы (Черняк М.Е.)

3.    Одним из направлений работ является исследование тестовых структур, включающих в себя транзисторные структуры, логические элементы и ячейки памяти. В ходе исследований проводится моделирование радиационных воздействий в приборно-технологических программных пакетах с последующей экспериментальной верификацией полученных результатов (Смолин А.А.)

Группой проводятся испытания/исследования изделий к дозовым и импульсным ионизирующим излучениям, на стойкость к структурным повреждениям, а также на стойкость к отдельным ядерным частицам.

Основные заказчики и производители объектов испытаний: ОАО «НИИМЭ и Микрон», ФГУП «ФНПЦ НИИИС им. Ю.Е.Седакова», ОАО «Интеграл», НИИСИ РАН, «ПКК Миландр», ЗАО «НПО «ЛЕПТОН», Atmel, Cypress Semiconductor, Texas Instruments, Analog Devices, AMD, Samsung, Andanta, Kodak, Sony, CMOSIS, Micron и многие другие.

В область научных интересов сотрудников группы входит:
- Изучение и развитие методик и алгоритмов контроля радиационных эффектов в микросхемах памяти и изделиях оптоэлектроники.
- Изучение механизмов взаимодействия ионизирующего излучения с веществом.

Сотрудники группы ежегодно принимают участие в российских (не менее 5) и международных (не менее 2) конференциях и научно-практических семинарах.

Иллюстрация направлений работы группы

Можно реализовать тестирование любой сложности (тесты типа N, N1,5 и N2). Ограничение: время и особенности радиационного эксперимента. К примеру, для дозового воздействия время облучения должно быть в 10 раз дольше, чем время измерения параметров, чтобы минимизировать временной отжиг.

Типовые применяемые коды: «поле 0», «поле 1», прямые и обратные коды типа  «шахматы», «диагональ», «инкрементный», а также «марш» и «псевдослучайный».

Типовое программное обеспечение для тестирования накопителя запоминающего устройства реализуется в среде LabView и позволяет регистрировать распределение ошибок как в пределах разрядов, так и по адресам.

Типовой состав стенда для контроля запоминающих устройств:

Кроме функционального контроля проводится регистрация критериальных параметров.
К примеру, таких как:
         - выходные уровни:

         - токи потребления:

         - временные параметры:

Структура типового стенда для испытаний изделий оптоэлектроники:

Типовые параметры-критерии годности изделий оптоэлектроники при радиационных испытаниях приведены ниже:

Пример программного окна для тестирования оптопар на дозовую стойкость приведен ниже: