Руководитель группы: к.т.н. Бобровский Дмитрий Владимирович –
Этот e-mail адрес защищен от спам-ботов, для его просмотра у Вас должен быть включен Javascript
, +7-926-170-66-60 Группа обеспечивает полный цикл испытаний программируемых логических интегральных схем (ПЛИС), базовых матричных кристаллов (БМК) и интерфейсных схем на стойкость к воздействию внешних радиационных факторов. В работе группы «Программируемые логические схемы, базовые матричные кристаллы и интерфейсные интегральные схемы» выделяются четыре основных направления: 1. Исследование и испытание ПЛИС и БМК на стойкость к воздействию внешних радиационных факторов. Среди испытанных изделий можно выделить таких производителей современной микроэлектроники как: ОАО «КТЦ Электроника», ОАО «НИИМЭ и Микрон», ОАО «Ангстрем», ФГУП «ФНПЦ НИИИС им. Ю.Е.Седакова», Altera, Actel, Xilinx и др. Также проводятся испытания и исследования конфигурационной памяти (КП) для ПЛИС, т.к. радиационная стойкость КП является важным фактором при создании аппаратуры космического и специального применения. На базе оборудования ф. National Instruments создан комплекс для функционального и параметрического контроля ПЛИС и БМК, позволяющий проводить программирование ПЛИС, чтение конфигурационной памяти и тестирование различных блоков ПЛИС (распределенная память, конфигурационная память, логика, встроенные процессоры, высокоскоростные приемопередатчики и т.д.). 2. Исследование и испытание интерфейсных СБИС на стойкость к воздействию внешних радиационных факторов. Проводятся испытания широкой номенклатуры интерфейсных СБИС (RS-232/485, Ethernet, FibreChannel, CAN, ГОСТ Р 52070-2003 / MILSTD 1553 и т.д.) отечественных и зарубежных производителей: ЗАО НТЦ «Модуль», НИИСИ РАН, ОАО НПО «Физика», ОАО «РИРВ», НПО Автоматики, ЗАО «ПКК Миландр», ОАО «Интеграл», HOLT, DDC, InnovaSemiconductor, TexasInstrumentsи др. 3. Испытания одноплатных компьютеров и периферийных модулей. Проведены испытания более 20 процессорных и периферийных модулей в формате PC/104, MicroPCпроизводителей Fastwell, RTD, ЭЛКУС и т.д. Специализированная оснастка и большой опыт в проведении испытаний позволяют выявить блоки и отдельные ИС, входящие в состав модулей, наиболее чувствительные к внешним радиационным факторам. 4. Моделирование радиационной обстановки внутри космического аппарата (КА) и проведение исследований защитных свойств корпусов ИС к воздействию радиации. Анализ конструкции КА с помощью специализированного САПР (FASTRAD) позволяет задать индивидуальные требования по накопленной дозе и спектрам заряженных частиц в космосе для отдельных приборов, входящих в состав КА (вплоть, до отдельных ИС). Также 3D-моделирование КА позволяет дать рекомендации по установке локальной защиты для отдельных изделий, имеющих высокую чувствительность к внешнему радиационному воздействию. |
При подготовке и проведении испытаний обеспечивается измерение таких критериальных параметров в процессе и после воздействия, как: токи потребления в различных режимах работы, напряжения выходных логических уровней, входные и выходные токи утечек, переключательная характеристика логического элемента, время межрегистровой пересылки (параметр, критичный для ПЛИС). |