АО "ЭНПО СПЭЛС"

В обязательном порядке все образцы (для которых это возможно), поступающие на исследование, проходят рентгенографический контроль внутренней структуры. Целями данного контроля являются:

· выявление и локализация дефектов печатных плат полупроводниковых приборов, электронных узлов и модулей;

· определение геометрических размеров и ориентацию полупроводниковых кристаллов в пластиковых или металлокерамических корпусах полупроводниковых приборах и интегральных схемах;

· контроль однородности партии однотипных изделий.

В НТК-5 для рентгеноскопии используются две установки, предназначенные для проведения рентгеновской неразрушающей диагностики печатных плат, полупроводниковых приборов, электронных узлов и модулей на наличие дефектов, которые невозможно выявить другими методами контроля (оптическими и электрическими):

1) Система на базе рентгеновского источника "Пардус", устройства перекрытия рентгеновского потока УПРП-0901 и радиовизиографа Krystal-X Easy фирмы OWANDY (Франция), см. рис. 12. Основные параметры системы приведены в таблице.

Снимки компаратора напряжения

Внешний вид системы рентгеновского контроля

2) Стенд рентгеновской неразрушающей диагностики собственного производства, на основе специально разработанного микрофокусного рентгеновского аппарата, системы позиционирования объекта и детекторов рентгеновского изображения – динамического детектора с люминесцентным экраном и статического - интраорального датчика OPTEO фирмы OWANDY. Специализированное программное обеспечение данного стенда позволяет проводить исследование как методом визуального контроля оператором, так и методом сравнения рентгеновского изображения исследуемого объекта с эталонным изображением. Основные технические характеристики стенда рентгеновской неразрушающей диагностики представлены в таблице.

Внешний вид стенда рентгеновской неразрушающей диагностики

Окно программы управления системой рентгеновской неразрушающей диагностики