
В пяти секциях по основным тематическим направлениям представлено 99 устных и 65 стендовых докладов:
• Секция 1 «Элементная база микроэлектроники специального назначения. Методы и результаты исследований механизмов уязвимости».
• Секция 2 «Современные представления о поражающем действии излучений искусственного и естественного происхождения. Совершенствование методов задания требований стойкости».
• Секция 3 «Моделирующие, облучательные, имитационные установки и комплексы для проведения исследований и испытаний стойкости».
• Секция 4 «Методология расчетно-экспериментального обоснования стойкости».
• Секция 5 «Метрологическое обеспечение исследований и испытаний».
Коллектив НИЯУ МИФИ и АО «ЭНПО СПЭЛС» представил 5 докладов:
• Чумаков А.И. (докладчик пленарной секции) «Развитие научно-методических подходов к оценке соответствия ЭКБ требованиям стойкости к СВВФ».
• Уланова А.В. (докладчик секции №1) «Действующая отечественная система задания требований, обеспечения и контроля радиационной стойкости ЭКБ».
• Бобровский Д.В. (докладчик секции №3) «Стенды испытаний ЭКБ на стойкость к воздействию ТЗЧ в рамках проекта NICA».
• Боруздина А.Б., Печенкин А.А. (докладчики секции №3) «Подход к оценке стойкости ЭКБ при воздействии отдельных ядерных частиц с применением ускорителей ионов и лазерных установок».
• Кессаринский Л.Н. (стендовый доклад секции №5) «Метрологическое обеспечение автоматизированных измерительных комплексов для достоверного и информативного контроля годности испытываемых изделий ЭКБ».
В дополнение к плотному графику работы участники посетили музеи и памятные места Сарова.
Общий вид музея ядерного оружия.