29-я Всероссийская научно-техническая конференция «Радиационная стойкость электронных систем» («СТОЙКОСТЬ-2026»)

04.06.2026

В период с 2 по 3 июня 2026 г. в Деловом центре АО «ВНИИАЭС» ГК «Росатом» прошла 29-я всероссийская научно-техническая конференция «Радиационная стойкость электронных систем», также известная под кратким названием «Стойкость». Эта ежегодная конференция является одним из наиболее значимых событий для специалистов в области обеспечения и контроля радиационной стойкости радиоэлектронной аппаратуры (РЭА) и электронной компонентной базы (ЭКБ). Радиационная стойкость (РС), как один из возможных элементов доверенности, является важной для ЭКБ и РЭА, применяемых в объектах критической информационной инфраструктуры, работающих в условиях воздействиях радиации, в первую очередь это космические системы, атомные станции, а также объекты вооружения, военной и специальной техники.

В работе конференции «Стойкость-2026» приняли участие более 150 руководителей и специалистов из более 40 ведущих государственных и частных организаций (разработчиков и производителей РЭА и ЭКБ военного и космического назначения и, испытательных центров (ИЦ), образовательных учреждений и научных центров), которые представляли Госкорпорации «Росатом», «Роскосмос», Минобрнауки России, Минобороны России, ГК «Ростех», Концерн ВКО «Алмаз-Антей», Российскую академию наук, Объединенную авиастроительная корпорацию. Среди постоянных и активных участников следует отметить АО «НИИП», АО «ЭНПО СПЭЛС», НИЯУ МИФИ (в том числе ЦЭПЭ НИЯУ МИФИ), АО «НИИ КП», ФГБУ «46 ЦНИИ» МО РФ, ФГУП «ВНИИА им. Н.Л. Духова», ФГУП «РФЯЦ-ВНИИЭФ», ФГУП «РФЯЦ-ВНИИТФ им. академика Е.И. Забабахина», АО «Российские космические системы», АО «НПО Лавочкина», АО «ЦНИИмаш», ИКИ РАН.

Всего на конференции было представлено 26 устных и 86 стендовых докладов. 

От консорциума «Доверенные и экстремальные электронные системы» (ЦЭПЭ НИЯУ МИФИ — АО «ЭНПО СПЭЛС») на конференции были представлены 15 стендовых и 5 устных докладов:

• А.И. Чумаков, Д.В. Бобровский, А.А. Смолин «Особенности оценки параметров чувствительности ИС по одиночным радиационным эффектам при воздействии ионов с энергиями выше 100 МэВ/нуклон».

• А.В. Яненко, А.Е. Козюков «Испытания ЭКБ в составе блоков аппаратуры на стойкость по одиночным эффектам на ускорителях протонов. Тенденции и технические возможности».

• А.Б. Боруздина, А.В. Яненко, А.Р. Мустафин, Д.В. Котова, А.С. Тарараксин, И.О. Лоскутов, В.Г. Напалков «Особенности испытаний многокристальных модулей
  на стойкость к одиночным радиационным эффектам».

• В.Д. Калашников, С.Ю. Дианков, А.В. Согоян, А.В. Уланова, Д.В. Бойченко, Г.Г. Давыдов, А.Г. Петров «Статистический разброс показателей стойкости типовых изделий электронной компонентной базы к воздействию импульсного ионизирующего излучения».

• А.В. Согоян «Локальные модели прогнозирования уровней отказов слабо-нелинейных систем».

Участники конференции от консорциума «Доверенные и экстремальные электронные системы» (ЦЭПЭ НИЯУ МИФИ — АО «ЭНПО СПЭЛС») благодарят организаторов конференции (АО «НИИП») организационный и программный комитет за отличную организацию и интересную научно-техническую программу конференции.