Конференция "Радиационная стойкость электронных систем", "СТОЙКОСТЬ-2024"

С 4 по 5 июня 2024 года в Москве прошла 27-ая Всероссийская научно-техническая конференция «Радиационная стойкость электронных систем» - «Стойкость-2024», организованная АО «НИИП» (г. Лыткарино). В работе конференции приняли участие более 200 делегатов от практически полусотни организаций: испытательных центров, держателей установок, разработчиков и потребителей изделий радиоэлектроники.

На конференции были представлены 29 устных и 87 стендовых докладов по следующим основным направлениям: радиационные и электромагнитные эффекты в изделиях радиоэлектроники; оценка и обеспечение радиационной стойкости и надежности изделий электронной техники; расчётные и экспериментальные методы определения радиационной стойкости изделий; испытательные установки, дозиметрическое и метрологическое сопровождение испытаний.

Сотрудники Консорциума НИЯУ МИФИ – АО «ЭНПО СПЭЛС» выступили на конференции с устными и стендовыми докладами. Технический директор АО «ЭНПО СПЭЛС» Яненко А.В. представил доклад о методических подходах экспериментальной проверки эффективности защиты от одиночного тиристорного эффекта, директор дизайн-центра Усачев Н.А. выступил с докладом про отечественную приемопередающую СБИС для объектов критической инфраструктуры. Молодые сотрудники АО «ЭНПО СПЭЛС» и аспиранты НИЯУ МИФИ рассказали слушателям о результатах исследования влияния гамма-нейтронного облучения на показатели стойкости интегральных схем к воздействию импульсного излучения (Калашников В.Д.), а также о влиянии температуры окружающей среды на пороги чувствительности линейных регуляторов напряжения к воздействию серии импульсов напряжения (Шемонаев А.Н.).

С материалами конференции можно ознакомиться в разделе "Конференции и семинары".