Главная ∙ Новости ∙ Новый выпуск журнала «Безопасность информационных технологий» том 32, № 3 (2025)
Вышел новый выпуск научного журнала «БИТ. Безопасность информационных технологий»: номер включает колонку главного редактора и широкий блок научных статей по актуальным направлениям ИБ, криптографии, доверенной электронике и защите критической инфраструктуры. Новый номер также содержит раздел «События и мнения» с ретроспективным анализом прошлого, настоящего и будущего российских микросхем, конференциях МИТСОБИ 2025 и «Стойкость-2025», а также аналитикой рынка доверенной ЭКБ для объектов КИИ.
Ключевые материалы
Выпуск консолидирует результаты исследований по защите вычислительных платформ, методам противодействия атакам и обеспечению целостности данных в условиях роста сложности ИТ‑ландшафта.
Полное содержание выпуска доступно на сайте журнала.
Предыдущие номера.
Желаем приятного и полезного чтения!
01.10.2025
Российский Форум «Микроэлектроника-2025»
25.09.2025
Сотрудники АО «ЭНПО СПЭЛС» удостоены звания «Почетный работник электронной промышленности»
16.09.2025
Участие в фестивале «Формула успеха» НИЯУ МИФИ
15.09.2025
Новый выпуск журнала «Безопасность информационных технологий» том 32, № 3 (2025)