Участие в конференции «СЕРТИФИКАЦИЯ ЭКБ – 2023»

В 15 по 17 марта в Санкт-Петербурге состоялась возобновившаяся после пандемийного периода конференция «Пути решения задач обеспечения современной электронной аппаратуры надежной электронной компонентной базой» («СЕРТИФИКАЦИЯ ЭКБ – 2023»). Организатором конференции по традиции стал АО «РНИИ «Электронстандарт».

В мероприятии приняли участие представители более 100 организаций и свыше 150 участников от инженеров-разработчиков до генеральных директоров предприятий.

На конференции было представлено более 30 докладов, которые рассматривали различные аспекты обеспечения современной электронной аппаратуры надежными изделиями ЭКБ. Среди них были рассмотрены темы о новых технологиях производства электронных компонентов, методах их тестирования и сертификации, а также о проблемах, связанных с подделками электронных компонентов.

Руководитель центра проведения испытаний Консорциума НИЯУ МИФИ – АО «ЭНПО СПЭЛС» Чуков Г. В. выступил с докладом на актуальную тему: «Умные» испытания, тестирование, контроль работоспособности и сбоеустойчивости ЭКБ на всех этапах жизненного цикла, в том числе при радиационных воздействиях – «под ключ».

С мнением участника конференции можно ознакомиться в журнале «Безопасность информационных технологий» Том 30, № 2 (2023).