Участие в конференции «СТОЙКОСТЬ-2023»

С 6 по 7 июня 2023 года в подмосковном Лыткарино прошла 26-я Всероссийская научно-техническая конференция «Радиационная стойкость электронных систем» (СТОЙКОСТЬ-2023).

В конференции приняли участие 218 представителей и специалистов из 45 организаций, было представлено всего 93 стендовых и 28 устных докладов. Среди них 18 стендовых и 6 устных докладов (из них в двух как соавторы), представленных сотрудниками Консорциума «Доверенные и экстремальные электронные системы». Всего от Консорциума в работе конференции приняло участие 47 человек.

Докладчик Авторы и название доклада Николай Александрович Усачев  Усачев Н. А., Сотсков Д. И., Зубаков А. В., Жидков Н. М. АО «ЭНПО СПЭЛС», НИЯУ МИФИ Специализированная библиотека базовых элементов для создания приемопередающих СБИС с использованием отечественного технологического процесса КМОП 180 нм Александр Николаевич Шемонаев  Шемонаев А. Н. АО «ЭНПО СПЭЛС», НИЯУ МИФИ Метод определения стойкости микросхем к воздействию электрических импульсов на основе расчетно-экспериментальной оценки влияния скрытых повреждений на критерии годности Андрей Викторович Яненко Бобровский Д. В., Боруздина А. Б., Лоскутов И. О., Чуков Г. В., Яненко А. В. АО «ЭНПО СПЭЛС», НИЯУ МИФИО целесообразности испытаний ЭКБ иностранного производства с заявленной радиационной стойкостью Роман Сергеевич Торшин Торшин Р. С., Калашникова М. О. АО «ЭНПО СПЭЛС», НИЯУ МИФИ Особенности изменения параметров аналого-цифровых преобразователей различных архитектур при воздействии гамма-излучения Никита Михайлович Жидков Жидков Н. М., Амбуркин К. М., Новиков М. А., Сотсков Д. И., Усачев Н. А. АО «ЭНПО СПЭЛС», НИЯУ МИФИ Методика восстановления параметров СВЧ моделей GaAs pHEMT Арсений Андреевич Балуев Балуев А. А., Можаев Р. К., Лукашин В. П., Печенкин А. А. АО «ЭНПО СПЭЛС», НИЯУ МИФИ Изменение коэффициента пропускания оптических стекол при воздействии гамма-излучения в диапазоне температур Алексей Асхарович Сливин Сливин А. А.1, Филатов Г. А.1, Сыресин Е. М.1, Агапов А. В.1, Балдин А. А.1, Донец Е. Е.1, Левтеров К. А.1, Бутенко А. В.1, Тузиков А. В.1 , Кулевой Т. В.2, Титаренко Ю. Е.2, Бобровский Д. В.3,4 , Соловьёв С. А.3,4, Чумаков А. И.3,4, Кубанкин А. С.5 , Подорожный Д. М.6, Ковалёв И. М.6, Карманов Д. Е.6, Ткачев П. Л.6 1ОИЯИ, 2НИЦ «Курчатовский институт», 3НИЯУ МИФИ, 4АО «ЭНПО СПЭЛС», 5ООО «Вакуумные системы и технологии», 6НИИЯФ МГУ Станции для испытаний электронной компонентной базы пучками тяжёлых ионов низких и высоких энергий инжекционного комплекса NICA Владимир Федорович Герасимов  Герасимов В. Ф.1, Азовцев Е. А.2,3, Болдырев М. А.1, Давыдов Г. Г.2,3, Дианков С. Ю.1, Курьяков Р. А.1, Романов Б. С.4, Чуков Г.В.2,3 1ФГБУ «46 ЦНИИ» МО РФ, 2НИЯУ МИФИ, 3АО «ЭНПО СПЭС», 4АО «ОКБ КП» Стойкость кабельных изделий к воздействию специальных факторов и рекомендации по заданию и подтверждению требований
Поздравляем наших коллег с успешными выступлениями!