Главная ∙ Новости ∙ Участие в XVII международной конференции по актуальным проблемам электронного приборостроения IEEE APEIE 2025

Участие в XVII международной конференции по актуальным проблемам электронного приборостроения IEEE APEIE 2025

Участие в XVII международной конференции по актуальным проблемам электронного приборостроения IEEE APEIE 2025
01.12.2025

Сотрудник АО «ЭНПО СПЭЛС» Торшин Роман принял участие в XVII Международной конференции по актуальным проблемам электронного приборостроения IEEE APEIE 2025 (IEEE XVII International Conference on Actual Problems of Electronic Instrument Engineering), проходившей 14-16 ноября в Новосибирске.


Конференция APEIE проводится раз в два года при спонсорской поддержке Института инженеров по электротехнике и электронике (IEEE). Конференция охватывает весь спектр современных технологий – от физической электроники, датчиков до медицинских технологий, промышленной информатики и искусственного интеллекта, в этом году конференция собрала ведущих экспертов из 16 стран, представивших свои научные разработки на 8 секциях:


  • Электронные приборы, нанотехнологии и микросистемная техника;

  • Медицинские электронные приборы и биотехнологии;

  • Электротехника и энергетика;

  • Радиотехнические и телекоммуникационные системы;

  • Автоматизация и информационно-измерительные технологии;

  • Математическое моделирование процессов и систем;

  • Оптические и лазерные технологии;

  • Обработка естественного языка.


Роман выступил со своим докладом по статье «Расширенные методики измерения параметров АЦП» в секции «Автоматизация и информационно-измерительные технологии». Статья посвящена описанию методических и технических подходов к измерению критериальных параметров микросхем преобразователей в процессе входного контроля и при радиационных исследованиях. В статье особое внимание уделено новым отечественным нормативным документам в области тестирования критериальных параметров микросхем АЦП/ЦАП), в создании которых приняли участие сотрудники АО «ЭНПО СПЭЛС» и ЦЭПЭ НИЯУ МИФИ:


  • ГОСТ Р 71896-2024 Микросхемы интегральные. Аналого-цифровые преобразователи. Методы измерения времени преобразования;

  • ГОСТ Р 71920-2024 Микросхемы интегральные. Цифро-аналоговые преобразователи. Методы измерения параметров характеристики преобразования;

  • ГОСТ Р 71921-2024 Микросхемы интегральные. Цифро-аналоговые преобразователи. Методы измерения времени установления выходного напряжения (тока);

  • ГОСТ Р 71922-2024 Микросхемы интегральные. Аналого-цифровые преобразователи. Методы измерения параметров характеристики преобразования.


Доклады других участников секции были посвящены тематикам искусственного интеллекта, промышленной роботизации, созданию отечественных САПР, вайб-кодингу, алгоритмам проектирования беспилотных систем в условиях радиоэлектронных помех, их согласованного движения для выполнения совместных задач (рой БПЛА), анализу больших данных и проектированию надежных систем контроля состояния центров обработки данных.

 

Другие новости