Главная ∙ Новости ∙ Вышел новый выпуск журнала «Безопасность информационных технологий»
Опубликован новый выпуск научного журнала «Безопасность информационных технологий» — том 33, № 4 за 2026 год. В номер вошли 14 научных статей, посвящённых актуальным вопросам информационной безопасности, микроэлектроники, криптографии и защиты критической информационной инфраструктуры, а также три материала в рубрике «События и мнения».
В колонке главного редактора Александр Ю. Никифоров рассказывает о подготовке к Российскому форуму «Микроэлектроника 2026», который состоится с 27 сентября по 3 октября на федеральной территории «Сириус». Особое внимание уделено традиционному треку обзорно-дискуссионных заседаний «Доверенные ЭКБ и ПАК для регулируемых рынков КИИ», в программу которого войдут обсуждения технологической безопасности и защиты цепочек поставок электронной компонентной базы, перехода значимых объектов КИИ на доверенные программно-аппаратные комплексы, кибербезопасности ЭКБ и радиоэлектронной продукции, аппаратной защиты информации, а также требований к разработке и поставке доверенных микросхем.
Выпуск также знакомит читателей с программой Предконференции № 1 Форума «Доверенные и экстремальные электронные системы», которая пройдёт с 7 по 10 сентября в Москве на базе консорциума НИЯУ МИФИ — АО «ЭНПО СПЭЛС». Её заседания будут посвящены экстремальной электронике, электронному машиностроению и материалам, аналитическому и испытательному оборудованию, а также разработке и производству изделий микроэлектроники, СВЧ-электроники, оптоэлектроники, сенсорики и микросистемной техники.
Научные статьи нового номера охватывают широкий круг тем:
В рубрике «События и мнения» опубликованы материал о перспективах применения искусственного интеллекта в работе «белых хакеров», обзор конференции «Микроэлектронные системы — 2026» и отчёт об участии в 35-й конференции МИТСОБИ-2026.
Все статьи выпуска доступны для чтения и скачивания в формате PDF на странице журнала.
18.08.2026
Вышел новый выпуск журнала «Безопасность информационных технологий»
17.07.2026
АО «ЭНПО СПЭЛС» приняло участие в выпускном НИЯУ МИФИ
01.07.2026
Конференция «Микроэлектронные системы» (МЭС-2026)
04.06.2026
29-я Всероссийская научно-техническая конференция «Радиационная стойкость электронных систем» («СТОЙКОСТЬ-2026»)