31.03.2026

Опубликован второй выпуск научного журнала «Безопасность информационных технологий» за 2026 год — том 33, № 2. В номер вошли 15 научных статей и три публикации рубрики «События и мнения». Центральными темами стали безопасность промышленных и корпоративных систем, искусственный интеллект, защищённая разработка, надёжность электроники и противодействие техническим каналам утечки информации.

В колонке главного редактора Александр Ю. Никифоров обращает внимание читателей и авторов на обновлённый облик журнала, впервые представленный в выпуске № 1 за 2026 год. Редакция изменила дизайн обложки и формат научных статей с учётом рекомендаций Научной электронной библиотеки eLibrary.ru. Авторам будущих публикаций необходимо использовать новый шаблон оформления материалов. Кроме того, состав редакционной коллегии пополнили известные специалисты в области информационной безопасности и микроэлектроники.

Значительная часть колонки посвящена двум юбилейным событиям. Редакция журнала поздравляет с 30-летием коллектив издания «Электроника: Наука, Технология, Бизнес» — многолетнего партнёра Российского форума «Микроэлектроника». Издательство «Техносфера» традиционно обеспечивает информационное сопровождение Форума и выпускает сборники его тезисов и трудов.

Ещё одна важная дата — 60-летие филиала РФЯЦ-ВНИИЭФ «НИИИС имени Ю. Е. Седакова». В 2026 году также исполняется 40 лет с момента создания в НИИИС отраслевого центра твердотельной микроэлектроники. Главный редактор вспоминает многолетнее сотрудничество с предприятием в сфере радиационной стойкости микросхем, проведения испытаний, анализа отказов и разработки новых методик.

Научные статьи выпуска охватывают широкий круг направлений:

• информационную безопасность АСУ ТП, построенных на открытых архитектурах;
• применение крупных языковых моделей для проактивного мониторинга информационной безопасности;
• машинное обучение для обнаружения программных клонов и аномалий в телеметрии промышленного интернета вещей;
• внедрение политик реагирования на инциденты и оценку зрелости услуг центров управления сетевой безопасностью;
• интеграцию средств защиты в корпоративную ИТ-инфраструктуру;
• безопасную разработку смарт-контрактов;
• обучение защите форм авторизации веб-приложений;
• исследование электромагнитных каналов утечки информации;
• оценку одиночных сбоев цифровой электроники под воздействием космического излучения;
• разработку процессоров с параметризованной VLIW-архитектурой;
• исследования полупроводниковых лазеров и процессов в оксиде кремния.

Отдельная англоязычная статья посвящена графовой модели объединения данных мозга и генов для классификации депрессии.

В рубрике «События и мнения» представлен обзор рекомендаций NIST SP 800-193 по обеспечению отказоустойчивости встроенного программного обеспечения аппаратно-программных платформ. Также опубликованы впечатления от конференции «Информационная безопасность в АСУ ТП — 2026» и отчёт об участии в форуме «Технологии и безопасность — 2026».

Все материалы выпуска доступны для чтения и скачивания в формате PDF на сайте журнала.

Предыдущие номера.