Услуги
О нас
История
Команда
Лицензии/патенты
О консорциуме
Образовательная организация
Конференции и семинары
Журнал БИТ
Новости
Вопросы и ответы
Контакты
office@spels.ru
Перезвоните мне
Главная
∙ Конференции и семинары
∙ Стойкость
∙ Стойкость - 2024
Стойкость - 2024
.pdf
Программа конференции "Стойкость-2024"
608.9 Кб
Программа
.pdf
608.9 Кб
Программа
Программа конференции "Стойкость-2024"
.pdf
Вводный доклад, ретроспектива
1.5 Мб
Презентация
.pdf
1.5 Мб
Презентация
Вводный доклад, ретроспектива
.pdf
Методические подходы экспериментальной проверки эффективности защиты от одиночного тиристорного эффекта
1.3 Мб
Презентация
.pdf
1.3 Мб
Презентация
Методические подходы экспериментальной проверки эффективности защиты от одиночного тиристорного эффекта
.pdf
Исследование влияния гамма-нейтронного облучения на показатели стойкости интегральных схем к воздействию импульсного излучения
694.2 Кб
Презентация
.pdf
694.2 Кб
Презентация
Исследование влияния гамма-нейтронного облучения на показатели стойкости интегральных схем к воздействию импульсного излучения
.pdf
Исследование порогов чувствительности линейных регуляторов напряжения при воздействии серий импульсов напряжения при различных температурах окружающей среды
1.5 Мб
Презентация
.pdf
1.5 Мб
Презентация
Исследование порогов чувствительности линейных регуляторов напряжения при воздействии серий импульсов напряжения при различных температурах окружающей среды
.pdf
Исследование стойкости микросхем инвертирующего триггера Шмитта к воздействию ИИ КП по дозовым ионизационным эффектам
318.4 Кб
Постер
.pdf
318.4 Кб
Постер
Исследование стойкости микросхем инвертирующего триггера Шмитта к воздействию ИИ КП по дозовым ионизационным эффектам
.pdf
Программное средство автоматизированного синтеза катушек индуктивности сложной формы
345.8 Кб
Постер
.pdf
345.8 Кб
Постер
Программное средство автоматизированного синтеза катушек индуктивности сложной формы
.pdf
Пути повышения эффективности схемотехнической защиты от одиночных тиристорных эффектов
233.6 Кб
Постер
.pdf
233.6 Кб
Постер
Пути повышения эффективности схемотехнической защиты от одиночных тиристорных эффектов
.pdf
Результаты испытаний на стойкость к воздействию ИИ КП по дозовым эффектам с использованием ускоренных методов испытаний
220 Кб
Постер
.pdf
220 Кб
Постер
Результаты испытаний на стойкость к воздействию ИИ КП по дозовым эффектам с использованием ускоренных методов испытаний
.pdf
Влияние интенсивности ионизирующего излучения на дозовую стойкость полупроводникового излучателя ближнего инфракрасного диапазона на основе эпитаксиальных структур GaAs
302.5 Кб
Постер
.pdf
302.5 Кб
Постер
Влияние интенсивности ионизирующего излучения на дозовую стойкость полупроводникового излучателя ближнего инфракрасного диапазона на основе эпитаксиальных структур GaAs
.pdf
Выбор установки для проведения выдержки в состоянии ТЭ
272 Кб
Постер
.pdf
272 Кб
Постер
Выбор установки для проведения выдержки в состоянии ТЭ
.pdf
Декапсуляция ЭКБ с медными элементами для проведения испытаний к воздействию ТЗЧ
1 Мб
Постер
.pdf
1 Мб
Постер
Декапсуляция ЭКБ с медными элементами для проведения испытаний к воздействию ТЗЧ
.pdf
Особенности изменения параметров аналого-цифровых преобразователей различных архитектур при воздействии гамма излучения
598.1 Кб
Постер
.pdf
598.1 Кб
Постер
Особенности изменения параметров аналого-цифровых преобразователей различных архитектур при воздействии гамма излучения
.pdf
Эквивалентность нейтронного и протонного излучений по структурным повреждениям
224.9 Кб
Постер
.pdf
224.9 Кб
Постер
Эквивалентность нейтронного и протонного излучений по структурным повреждениям
.pdf
Влияние подпорогового дефектообразования на ELDRS
255.9 Кб
Постер
.pdf
255.9 Кб
Постер
Влияние подпорогового дефектообразования на ELDRS
.pdf
Влияние накопленной дозы на максимальное число циклов перезаписи микросхем CBRAM
678.7 Кб
Постер
.pdf
678.7 Кб
Постер
Влияние накопленной дозы на максимальное число циклов перезаписи микросхем CBRAM
.pdf
Исследование порогов чувствительности линейных регуляторов напряжения при воздействии серий импульсов напряжения при различных температурах окружающей среды
329.4 Кб
Постер
.pdf
329.4 Кб
Постер
Исследование порогов чувствительности линейных регуляторов напряжения при воздействии серий импульсов напряжения при различных температурах окружающей среды
.pdf
Аппаратно-программный стенд характеризации СВЧ транзисторов в диапазоне импедансов
236.9 Кб
Постер
.pdf
236.9 Кб
Постер
Аппаратно-программный стенд характеризации СВЧ транзисторов в диапазоне импедансов
.pdf
:Особенности распространения показателей импульсной электрической прочности ЭКБ на партию изделий
619.5 Кб
Постер
.pdf
619.5 Кб
Постер
:Особенности распространения показателей импульсной электрической прочности ЭКБ на партию изделий
.pdf
Методика восстановления параметров нелинейной СВЧ модели GaAs pHEMT
349.6 Кб
Постер
.pdf
349.6 Кб
Постер
Методика восстановления параметров нелинейной СВЧ модели GaAs pHEMT
.pdf
Исследование влияния величины поглощенной дозы на показатели стойкости КМОП ИС к воздействию импульсного ионизирующего излучения
367 Кб
Постер
.pdf
367 Кб
Постер
Исследование влияния величины поглощенной дозы на показатели стойкости КМОП ИС к воздействию импульсного ионизирующего излучения
.pdf
Влияние нейтронного облучения на показатели стойкости КМОП ИС к воздействию импульсного ионизирующего излучения
331.9 Кб
Постер
.pdf
331.9 Кб
Постер
Влияние нейтронного облучения на показатели стойкости КМОП ИС к воздействию импульсного ионизирующего излучения
.docx
Приближенное представление импульсного отклика линейной системы
306.6 Кб
Тезис
.docx
306.6 Кб
Тезис
Приближенное представление импульсного отклика линейной системы
.docx
Способ расчета времени потери работоспособности с учетом формы импульса излучения
63.2 Кб
Тезис
.docx
63.2 Кб
Тезис
Способ расчета времени потери работоспособности с учетом формы импульса излучения
.docx
Определение показателей стойкости линейных электронных систем к воздействию импульсного излучения при ограниченном объеме экспериментальных данных
210.2 Кб
Тезис
.docx
210.2 Кб
Тезис
Определение показателей стойкости линейных электронных систем к воздействию импульсного излучения при ограниченном объеме экспериментальных данных