Услуги
О нас
История
Команда
Лицензии/патенты
О консорциуме
Карьера
Образовательная организация
Конференции и семинары
Журнал БИТ
Новости
Вопросы и ответы
Контакты
office@spels.ru
Перезвоните мне
Главная
∙ Конференции и семинары
∙ Стойкость
∙ Стойкость-2026
Стойкость-2026
.pdf
Программа конференции
562.9 Кб
Программа
.pdf
562.9 Кб
Программа
Программа конференции
.pdf
Вводный доклад, ретроспектива
1.1 Мб
Презентация
.pdf
1.1 Мб
Презентация
Вводный доклад, ретроспектива
.pdf
Особенности оценки параметров чувствительности ИС по одиночным радиационным эффектам при воздействии ионов с энергиями выше 100 МэВ/нуклон
1.2 Мб
Презентация
.pdf
1.2 Мб
Презентация
Особенности оценки параметров чувствительности ИС по одиночным радиационным эффектам при воздействии ионов с энергиями выше 100 МэВ/нуклон
.pdf
Испытания ЭКБ в составе блоков аппаратуры на стойкость по одиночным эффектам на ускорителях протонов. Тенденции и технические возможности
1 Мб
Презентация
.pdf
1 Мб
Презентация
Испытания ЭКБ в составе блоков аппаратуры на стойкость по одиночным эффектам на ускорителях протонов. Тенденции и технические возможности
.pdf
Особенности испытаний многокристальных модулей на стойкость к одиночным радиационным эффектам
562.1 Кб
Презентация
.pdf
562.1 Кб
Презентация
Особенности испытаний многокристальных модулей на стойкость к одиночным радиационным эффектам
.pdf
Локальные модели прогнозирования уровней отказов слабо-нелинейных систем
1.8 Мб
Презентация
.pdf
1.8 Мб
Презентация
Локальные модели прогнозирования уровней отказов слабо-нелинейных систем
.pdf
Статистический разброс показателей стойкости типовых изделий электронной компонентной базы к воздействию импульсного ионизирующего излучения
365.3 Кб
Презентация
.pdf
365.3 Кб
Презентация
Статистический разброс показателей стойкости типовых изделий электронной компонентной базы к воздействию импульсного ионизирующего излучения
.pdf
Влияние наличия электрического смещения полупроводниковых светоизлучающих структур на основе AlInGaP, InGaN и GaAs на их радиационную стойкость к эффектам поглощенной дозы при воздействии электронами
397.6 Кб
Постер
.pdf
397.6 Кб
Постер
Влияние наличия электрического смещения полупроводниковых светоизлучающих структур на основе AlInGaP, InGaN и GaAs на их радиационную стойкость к эффектам поглощенной дозы при воздействии электронами
.pdf
Режимы работы электронных компонентов при проведении экспериментальной оценки показателей стойкости к воздействию импульсов напряжения
324 Кб
Постер
.pdf
324 Кб
Постер
Режимы работы электронных компонентов при проведении экспериментальной оценки показателей стойкости к воздействию импульсов напряжения
.pdf
Сравнение поведения КМОП СОЗУ при стационарном и импульсном наборе дозы
323.1 Кб
Постер
.pdf
323.1 Кб
Постер
Сравнение поведения КМОП СОЗУ при стационарном и импульсном наборе дозы
.pdf
Экспериментальная оценка уровней порогов деградации в светодиодах видимого спектра при воздействии последовательности импульсов напряжения
308.9 Кб
Постер
.pdf
308.9 Кб
Постер
Экспериментальная оценка уровней порогов деградации в светодиодах видимого спектра при воздействии последовательности импульсов напряжения
.pdf
Локальные линейные модели импульсной реакции систем со «слабой» нелинейностью
367.7 Кб
Постер
.pdf
367.7 Кб
Постер
Локальные линейные модели импульсной реакции систем со «слабой» нелинейностью
.pdf
Методы учета характеристик импульсного излучения в нелинейных системах Винера и Гаммерштейна
343.5 Кб
Постер
.pdf
343.5 Кб
Постер
Методы учета характеристик импульсного излучения в нелинейных системах Винера и Гаммерштейна
.pdf
Влияние геометрических и нелинейных эффектов на вид РПХ тиристорного эффекта в КМОП ИС
375.2 Кб
Постер
.pdf
375.2 Кб
Постер
Влияние геометрических и нелинейных эффектов на вид РПХ тиристорного эффекта в КМОП ИС
.pdf
Методические особенности контроля одиночных сбоев при воздействии ТЗЧ в твердотельных накопителях с включенной системой коррекции
435.6 Кб
Постер
.pdf
435.6 Кб
Постер
Методические особенности контроля одиночных сбоев при воздействии ТЗЧ в твердотельных накопителях с включенной системой коррекции
.pdf
Разработка методики восстановления параметров модели GaN HEMT транзистора
318.8 Кб
Постер
.pdf
318.8 Кб
Постер
Разработка методики восстановления параметров модели GaN HEMT транзистора
.pdf
Испытания ЭКБ в составе блоков аппаратуры на стойкость по одиночным эффектам на ускорителях протонов. Тенденции и технические возможности
232.1 Кб
Постер
.pdf
232.1 Кб
Постер
Испытания ЭКБ в составе блоков аппаратуры на стойкость по одиночным эффектам на ускорителях протонов. Тенденции и технические возможности
.pdf
Статистический разброс показателей стойкости типовых изделий электронной компонентной базы к воздействию импульсного ионизирующего излучения
393.3 Кб
Постер
.pdf
393.3 Кб
Постер
Статистический разброс показателей стойкости типовых изделий электронной компонентной базы к воздействию импульсного ионизирующего излучения
.pdf
Генерация импульсов произвольной формы на лазерном стенде МИКРО-1
350.9 Кб
Постер
.pdf
350.9 Кб
Постер
Генерация импульсов произвольной формы на лазерном стенде МИКРО-1
.pdf
Разработка инструментального усилителя мощности L-диапазона на основе GaN HEMT транзистора
435.6 Кб
Постер
.pdf
435.6 Кб
Постер
Разработка инструментального усилителя мощности L-диапазона на основе GaN HEMT транзистора