=

Главная ∙ Конференции и семинары ∙ Микроэлектроника ∙ Микроэлектроника-2026

Микроэлектроника-2026

Микроэлектроника-2026
.pdf
349.7 Кб
Программа
Программа Предконференции Доверенная и экстремальная электроника
.pdf
1.9 Мб
Презентация
Повышение стабильности физически неклонируемых функций на основе ПЛИС Xilinx. Автор: Д. А. Козин
.pdf
1.7 Мб
Презентация
Оптимизация алгоритма перевода чисел в модульной арифметике с использованием ПЛИС. Автор: Д. С. Турбин
.pdf
1.2 Мб
Презентация
Разработка кварцевого генератора с быстрым запуском по технологии КМОП 250 нм. Автор: А. А. Волкова
.pdf
1.1 Мб
Презентация
Подходы к созданию радиочастотных библиотек базовых элементов для КМОП технологических процессов. Автор: В. Н. Котов
.pdf
4.4 Мб
Презентация
Общее представление базовых идей и проектов стандартов - о проектах стандартов на доверенные интегральные микросхемы. Автор: Л. Н. Кессаринский
.pdf
1.1 Мб
Презентация
Разработка сигма-дельта модулятора с использованием КМОП технологических процессов 250 и 180 нм. Автор: Т. С. Соколов
.pdf
1.1 Мб
Презентация
Методологические рекомендации к калибровке сверхпроводникового гелиевого уровнемера. Автор: М. М. Таймасханов
.pdf
1.5 Мб
Презентация
Инструментарий для успешной разработки КМОП приёмопередатчиков: технологические процессы и библиотеки, САПР, маршруты, схемно-топологические решения. Подведение итогов заседания. Автор: Н. А. Усачёв
.pdf
793 Кб
Презентация
Разработка поведенческой модели лазер-тиристора с анодным управлением. Автор: М. А. Шульгин
.pdf
1.9 Мб
Презентация
Рациональный методический подход к радиационным испытаниям ЭКБ: состояние дел и ближайшие задачи. Автор: Г. В. Чуков
.pdf
4.6 Мб
Презентация
Подход к формированию требований, обеспечению и подтверждению доверенности (качества и безопасности) электроники (расширенный обзорный доклад). Автор: Л. Н. Кессаринский
.pdf
4.5 Мб
Презентация
Компактные методы C-V-диагностики радиационной деградации МОП-транзисторов. Автор: А. А. Метревели
.pdf
773.6 Кб
Презентация
Актуальные вопросы контроля привнесённых загрязнений на поверхность полупроводниковых пластин при испытаниях разработанных в рамках ОКР установок. Автор: В. А. Кузнецова
.pdf
1.5 Мб
Презентация
Закономерности распределения результатов контроля радиационной стойкости производственных партий пластин. Автор: Ю. М. Московская
.pdf
1.7 Мб
Презентация
Обеспечение достоверности и повторяемости определения показателей стойкости изделий ЭКБ к воздействию импульсов напряжения по критерию выявления скрытых дефектов в полупроводниковых структурах и процессов деградации. Автор: А. Н. Шемонаев
.pdf
1.4 Мб
Презентация
Разработка программно-управляемого источника микросекундных высокоамперных импульсов для испытаний полупроводниковых приборов. Автор: С. А. Златин
.pdf
930.8 Кб
Презентация
Снижение паразитной ёмкости коммутационной системы слаботочных сигналов для автоматизации функциональных испытаний. Автор: М. С. Шевлягин
.pdf
780.1 Кб
Презентация
Методические особенности контроля одиночных сбоев при воздействии ТЗЧ в твёрдотельных накопителях с включённой системой коррекции. Автор: М. С. Бердо
.pdf
1.1 Мб
Презентация
Аппаратно-программный комплекс для измерения времени обратного восстановления и заряда восстановления полупроводниковых диодов. Автор: Д. А. Михайлов
.pdf
1.5 Мб
Презентация
Конструктивная адаптация оптопар при радиационных испытаниях. Автор: Л. А. Колегов
.pdf
2.5 Мб
Презентация
Особенности адаптации модульных изделий для проведения исследований стойкости к воздействию тяжёлых заряженных частиц. Автор: Е. Д. Шаповалова
.pdf
871.7 Кб
Презентация
Проблемные вопросы построения систем тестирования малых космических аппаратов на примере испытаний бортового компьютера. Автор: И. Б. Леухин