У нас, в АО «ЭНПО СПЭЛС», успешно освоено применение сканирующих лазерных методов (традиционных для радиационных исследований) для изучения состава и наличия недекларируемых возможностей кристаллов критичных ЭКБ. Сканирование возможно проводить, в том числе, со стороны подложки для «перевернутых» (flip-chip) кристаллов.
Важно, что образцы сохраняют работоспособность в ходе исследований, а весь кристалл возможно предварительно (до локальной резки) проверить в течение рабочего дня.
Аттестация объектов информации по требованиям безопасности информации ФСТЭК России Испытания ЭКБ и РЭА на безопасность и защиту информации
Сертификационные испытания средств защиты информации по требованиям ФСТЭК России Испытания ЭКБ и РЭА на безопасность и защиту информации
Разработка средств защиты информации и исследований в области безопасности Испытания ЭКБ и РЭА на безопасность и защиту информации
Проверка ЭКБ на подлинность, наличие признаков контрафакта и однородности выборок Испытания ЭКБ и РЭА на безопасность и защиту информации
Идентификация и анализ компонентов аппаратной части РЭА Испытания ЭКБ и РЭА на безопасность и защиту информации
Возможности декапсуляции как части процедуры идентификации Испытания ЭКБ и РЭА на безопасность и защиту информации