Cпециализированные и универсальные тестеры для функционального и параметрического контроля ЭКБ

Разрабатываем и поставляем специализированные и универсальные тестеры для функционального и параметрического контроля ЭКБ.

• Реализация тестеров как на модульном измерительном оборудовании отечественного и импортного производства, так и на дискретных приборах с разработкой собственных модулей коммутации, специализированных измерителей и функциональных генераторов.
• Собственная платформа конфигурирования тестовых планов, проведения измерений, протоколирования результатов.
• Штат сертифицированных программистов LabVIEW.

• Универсальный цифровой тестер.
• Измеритель граничной частоты полупроводниковых приборов.
• Тестер силовых полупроводниковых приборов с характеристиками:
  

  
  Диоды Шоттки на SiC
  Uобр=600–1400 В;
  Iпр=1–10 А;
  Uпр=1–3 В;
  Iобр=50–500 мкА;
  Qобр (заряд восстановления)=1–80 нКл.
  
  

  Диоды Шоттки на Si
  Uобр=20–1000 В;
  Iпр=1–50 А;
  Uпр=0,5–2,5 В;
  Iобр=1 мкА–30 мА.
  
  

  Биполярные транзисторы
  Uкэ=10–1000 В;
  Iк=0,02–25 А;
  h21=10–18000;
  Uкэнас=0,2 В–5 В;
  Ток утечки коллектора, эмиттера = до 20 мА.